詳解PCB的ESD防護設計

2019-10-09   電子工程師小李

電源平面、接地平面和信號線的布局

電源平面、接地平面和信號線的布局是PCB ESD防護設計的重要措施之一。前面已經講述了多種有助於降低ESD對電路的破壞和影響的有效方法,但是PCB本身的布局也有助於提高系統的ESD保護作用。下面簡單列出一些有助於提高ESD保護的PCB布局的措施。

(1)在PCB上設置大面積的接地平面、電源平面。信號線一定要緊靠電源平面層或接地平面層,以保證信號回流的通路最短、最優,信號的環路最小。

(2)如果沒有使用電源平面(單層板或雙層板),則使所有電源和接地路徑靠近。還可以增加一些額外的連接線,以便在較多的面積上將電源及接地路徑連接起來,從而減小環路面積。

(3)信號路徑應儘量靠近接地線或接地平面,如圖15-17所示。圖15-17(a)的效果最差,圖15-17(b)的效果較好,圖15-17(c)的效果最好。

(4)在電源和接地之間設置高頻旁路電容器,要求這些旁路電容器的等效串聯電感值(ESL)和等效串聯電阻值(ESR)越小越好。大量使用旁路電容器可以減小電源和接地平面的環路面積,對低頻的ESD突發值具有很好的抑制效果,但是對於高頻的抑制效果不好。

圖15-17 信號路徑儘量靠近接地線或接地平面

(5)使走線長度儘可能短。因為越長的走線越難承受ESD能量,故元器件的布局應儘可能緊湊,以減短走線長度。

(6)在頂層和底層沒有元器件和電路的地方,應該使用敷銅並與地平面相連接,接地的敷銅區域應該以密集的間隔連接到接地平面。這些區域的接地可以作為從機箱接地或系統接地的一個低阻抗路徑,可以將高能量的ESD電流傳輸到地而不進入信號線或元器件中,從而降低ESD的影響。應注意的是,這種方法會將ESD的瞬態放電電流進入系統的接地平面(地參考點),也有可能會導致元器件損壞或誤動作。

(7)要小心控制接地和電源子系統的耦合。可以將電源和接地路徑緊密靠近(或電源和地參考平面相鄰),在電源和接地路徑之間添加高頻旁路電容器,以減小進入電路系統的ESD大電流。

(8)所有的接地必須採用低阻抗連接。一個低阻抗的接地可以將ESD引離敏感區,而且避免走線產生電弧放電。

(9)使用多層板。多層板可大大改善系統抵抗ESD放電的能力。將第一層接地平面儘可能靠近信號走線層,可使得ESD瞬態放電到達走線時能很快抵消。

隔離

靜電放電需要滿足三個條件,即具有一定量的電荷、在一定的距離內並且存在可放電的物體。一般認為,對於機架類產品,每千伏的靜電電壓的擊穿距離在1mm左右。對於PCB設計來說,在容易發生靜電放電的邊緣設置一定的隔離距離就顯得非常重要。如圖15-18所示,對於PCB上的器件、走線,應在容易放電的邊緣設置一個8~10mm隔離區,這樣就可以抵抗8~10kV的靜電電壓了(包括多層板的接地層和電源層)。

圖15-18 在PCB的靜電放電邊緣設置隔離區

對於PCB上對靜電敏感的器件,在布局時需要考慮將其布置在遠離靜電干擾的地方,而且離靜電放電源越遠越好。

電氣隔離也是抑制靜電放電衝擊的一種有效方法。在PCB上安裝光耦合器或變壓器,以及結合介質隔離和屏蔽可以很好地抑制靜電放電衝擊。

對於操作面板上容易被人體接觸的部件,如小面板、按鈕、鍵盤、旋鈕等,應儘可能採用能夠起隔離作用的絕緣物而不採用金屬件。

注意「孤島」形式的電源平面、地平面

在進行數模混合的電路PCB設計時,為避免數模混合的電路相互干擾,通常會採用在PCB內設置「孤島」形式的電源平面、地平面的方法。但對於靜電放電測試而言,在PCB內設置的電源平面、地平面的「孤島」,可能會帶來ESD問題。

有一個案例 [111] 可以用來說明這個問題:某通信產品,做靜電測試時,發現接觸放電打到4kV以上時,某一塊板就死機,並且該現象會重複再現。

1.分析

此產品新開發的單板總共有8種,只有上述這一種單板不能靜電放電到8kV,其餘都沒有問題,而且這塊板並不是最複雜的。

圖15-19「孤島」形式的「模擬」地

用頻譜儀分析機架靜電放電過程,測試發現CPU未有什麼變化,只是系統的接口物理層晶片「死亡」。但在進行PCB布局時,設計人員將此物理層晶片放在了最裡面,離靜電放電的距離最遠,根據該晶片的資料介紹,此晶片的抗ESD的能力為6kV。

對PCB進行分析,發現PCB採用的是8層板,信號層和地層、電源層的分布也很合理,再細看地平面層,發現此物理層晶片下面的地平面與其他地方不一致,有一塊單獨的「飛地」(如圖15-19所示)。

為什麼這樣設計呢?設計人員的考慮是:此晶片是數模結合的晶片,其引腳除了定義了「數字地」外,還定義了「模擬地」,因此在原理圖中也應相應增加模擬地,並且通過電感與數字地相連。這樣在進行PCB設計時,設計人員就在PCB的頂層下面設置了接地層,並在此接地層上割出了一小塊作為模擬地,在頂層通過電感和數字地進行連接。

此板靜電試驗不能通過的原因就在於這塊地平面的設置上。雖然此電感可以將數字地上的干擾濾去一些,但此平面緊靠頂層,在地平面受到靜電輻射場的干擾情況下,模擬地也同樣受到干擾,由於電感的存在,模擬地上的干擾不能立即消除,從而導致晶片電位抬高,輸出死鎖。

2.解決辦法

在現場將連接數字地和「模擬地」的電感去掉,改用多股粗導線將兩地進行短接,則可以順利通過靜電放電試驗。當進行PCB改版時,不再分割模擬地,而是將此晶片的模擬地腳直接連接到數字地上,則靜電測試通過。

對於PCB上特殊器件的接地處理,要具體分析其在PCB上的實際情況。由於器件供應廠商推薦的電路必然存在局限性,故不可生搬硬套。

工藝結構方面的PCB抗ESD設計

1.不可簡單地照抄照搬標準規範

近年來,在移動通信、數據通信、軟交換等這些高密度信息流數據處理設備中,用Compact PCI標準規範進行結構設計的產品越來越普遍,大大提高了產品的可靠性、互換性和模塊化,並且成本大幅降低。

PCB是元器件安裝的基礎,通常還需要在PCB上安裝相應的面板、扳手、接插件等附屬裝置後才可以裝配到一個系統中。在Compact PCI標準規範中,PCB單板高度是按U系列設計的(不包括手機等個人終端產品),其尺寸有規格,一般為4U, 6U, 7U, 8U和9U等。板上外接面板的孔均有尺寸規定,板邊還設有規定的導電覆銅(考慮了接地等因素)。插頭、插座、連接器的位置也有明確規定。

單板PCB工藝結構的設計十分重要,Compact PCI標準對PCB的工藝結構也有相應規定。單板部件由PCB、鋁面板、上下扳手三大部分組成,這充分考慮了系統對靜電放電的泄放路徑問題,以確保產品工作穩定、可靠。單板部件中的面板採用的是鋁合金材料,這樣選擇一是考慮了強度,二是考慮了EMC設計的靜電泄放和屏蔽問題。

有些設計人員對CPCI規範有誤解,認為CPCI規範的PCB四周採用金屬邊框,靜電放電的泄放就一定好,其實CPCI對PCB單板、機框、機架均有相應要求,如果將符合CPCI規範的PCB插到普通機架上,靜電放電效果並不一定會很好,有可能還會很壞。

有一個案例 [111] 可以用來說明這個問題:某產品在做電磁兼容測試時,將單板安裝上金屬面板後插到機架上,並且單板之間採用了屏蔽簧片填充。用靜電槍對單板金屬面板、扳手、指示燈等處進行靜電放電時,發現該產品的抗靜電效果很差,其中有的單板復位,有的單板誤碼特別高,導致系統通信中斷,並且幾乎每塊板都一樣差。

1)分析

板與板之間本來是應該存在差異的,這主要是因為設計人員的差異、器件的差異等,但一個系統中的十幾塊單板,為什麼結果都一樣差呢?通過分析發現PCB在四周設置了銅箔,並且在PCB的表層用絕緣油處理了。根據設計人員的介紹,在PCB四周設置銅箔的設計是按照CPCI規範進行的,目的是防靜電,以保證在機架上靜電不能進入PCB。通過認真分析,此銅箔是造成抗靜電效果很差的主要原因。由於裝PCB的機框與機架沒有按CPCI規範設計,PCB安裝面板與機框的搭接也不是很好,靜電泄放不通暢,所以導致系統不穩定。由於此銅箔是環形的,形成了一個很好的天線,所以靜電還通過輻射方式干擾這些銅箔和單板里的信號線,導致單板地電位發生變化,從而使系統產生了不穩定或復位的現象。

2)解決措施

針對上述問題,在試驗現場對單板PCB進行了臨時處理,將這些金屬銅箔割斷,將環形的銅箔分成許多小塊,再進行靜電放電測試,則效果好了許多。改版時,將PCB四周的銅箔全部去掉,問題即得到解決。

雖然產品硬體、工藝結構設計方面是可以克隆的,但應注意的是雖然要認真遵守標準規範,但決不可簡單地照抄照搬,否則結果可能適得其反。

2.注意散熱器帶來的ESD干擾

有一個案例 [112] 可以用來說明這個問題:某產品採用金屬外殼,對其進行ESD測試時,發現一螺釘位置對ESD極其敏感。對螺釘進行接觸放電3kV,就會發現該產品中的某一PCB電路板出現復位現象。經過觀察分析,發現靠近敏感螺釘位置有一晶片,晶片上有約2cm高的散熱器,該散熱器沒有採取任何接地措施。在測試中,將散熱器臨時去掉後,該螺釘位置的抗靜電干擾能力達到了±6kV。

1)分析

靜電放電時,在很短的時間內會產生幾十安的電流,而放電電流脈衝的上升在小於1ns之內完成,根據脈衝波最高諧波頻率計算公式f=1/πt r (t r 為脈衝上升時間)可知,靜電放電的過程是一個高頻能量的釋放與傳輸過程,在傳輸的路徑中一切敏感的電子線路或器件都將受到干擾,造成設備的誤動作。

在此案例中,由於靜電放電信號的高頻譜特性,使得一些因結構特性形成的寄生電容不能忽略不計。散熱器的靜電干擾傳輸路徑如圖15-20所示。

圖15-20 靜電干擾傳輸路徑

在圖15-20中,C 0 表示測試點與散熱器之間的寄生電容,C 2 表示散熱器與晶片之間的寄生電容。靜電干擾將從測試點通過C 0 ,再經過C 2 進入晶片內部電路,從而在產品中表現出干擾現象。散熱器的存在將大大增加測試點與晶片之間的容性耦合度,這是因為一方面散熱器有著比晶片更大的表面積;另一方面散熱器的存在縮短了與測試點表面的距離。去掉散熱器後,產品的抗ESD能力增強。

2)解決措施

只要將散熱器接至地平面就可以改變ESD干擾的傳輸路徑,從而使晶片受到保護。散熱器接地後的ESD干擾傳輸路徑如圖15-21所示。

圖15-21 改進後的ESD干擾傳輸路徑

注意: 對於PCB上的金屬體,一定要直接或間接地接到地平面上,不要懸空。另外,對於較敏感的電路或晶片,在PCB布局時應使其儘量遠離ESD放電點。

3.控制面板上的金屬部件的放電路徑

機箱面板上裝的金屬部件要與金屬機箱之間緊密搭接,使靜電放電電流順利通過機箱泄放,防止靜電放電電流流進電路。如果金屬部件安裝在絕緣面板上,就需要為放電電流提供一條阻抗很低的泄放通路,並且這個通路要遠離敏感電路,如圖15-22所示。必要時,可以在金屬部件與電路連接的導線上安裝一個 Γ 形濾波器。

圖15-22 面板上的金屬部件的處理

圖15-23 鍵盤與控制面板的靜電防護

4.鍵盤與控制面板的靜電防護

在鍵盤與控制面板的靜電防護中,必須將接地鍵盤電路設計為靜電放電電流不經過主要電路而流入地。如圖15-23所示,可以在對地絕緣的鍵盤與主機之間放置一個金屬的火花放電間隙防護器,並將其直接接機架地。空氣擊穿電壓為30kV/cm,殼接地時安全距離為0.05cm,殼不接地時安全距離為0.84cm,火花間隙應小於這個安全距離。控制面板的接地處要保證好的金屬搭接。

PCB上具有金屬外殼的器件的處理

對於PCB上具有金屬外殼的器件,其金屬外殼是否需要接地,接什麼地?有一個PCB上復位鍵外殼接地的案例 [113] 可以用來說明這個問題:某機架式通信產品,PCB是通過裝金屬面板後插到機框里的,對該產品做ESD試驗時,發現靜電槍打到5kV以上後,幾乎每塊單板都有復位現象。

1.分析

用示波器觀看復位晶片的輸出腳,發現在對PCB前面的安裝板打靜電時,復位晶片的輸出發生狀態變化,給CPU輸出了一個復位信號,導致了系統復位。

通過對PCB復位部分進行的分析,可知復位電路的器件採用的是著名公司已經量產的器件,此器件已經被大量使用,沒有發現此類問題,因此肯定不是器件本身的問題。而在PCB布線時,注意到將復位線埋在了內層,復位信號的給出並不是由於復位線拾取輻射場產生的。復位鍵(開關)也採用的是已經量產的器件,此器件的外殼是金屬的,並且有金屬安裝腳安裝到PCB上,而且金屬外殼通過粗導線連到了PCB的最外邊地上。

分析得出:由於在單板面板上的靜電泄放不暢,將單板面板處的金屬邊電位抬高,並通過抬高的電壓影響到復位開關的復位線,又由於復位鍵的安裝腳(與外殼電氣相連)離復位信號太近(3mm左右),所以對單板面板進行靜電放電時,復位開關的復位信號給復位器件發出了復位命令,使系統復位了。

2.解決措施

在試驗現場,將連接到復位開關外殼上的導線割斷,做靜電接觸放電試驗,發現直到8kV都沒有CPU復位現象。

PCB上元器件的金屬外殼應該是接地的,但要具體分析系統的狀況,以確定外殼究竟接到了哪個地上。接到保護地本來是可以的,但該單板靠近小面板側的保護地與大地的通路不好,阻抗很大,因此不能接到這個保護地上。改版時,將復位開關外殼接到了PCB的工作地上。通過靜電放電試驗證明接到PCB的工作地上是可行的。

應注意的是,對於PCB內有金屬外殼器件的接地,一定要認真分析對待。這是因為接地是很講究的,並不是隨便接一下就能解決問題的,接得不好還會帶來壞處。

在PCB周圍設計接地防護環

如果PCB面積允許,並且整機系統的搭接、靜電泄放通道都很好,則可以在PCB周圍設計接地防護環(如圖15-24所示)。防護環與接地平面應採用多通孔連接,同時要保證與機框、機架良好搭接,並且不能形成連續的環路,具體設計可以參考CompactPCI規範。

圖15-24 在PCB周圍設計接地防護環

PCB靜電防護設計的一些其他措施

PCB靜電防護設計的一些其他措施如下。

(1)不同的電子元器件的抗靜電敏感度是不一樣的。對於電子元器件的抗靜電能力,一般規定靜電損傷電壓超過16kV的為靜電不敏感器件,低於16kV的為靜電敏感器件。電子元器件的靜電敏感度一般分為3級。1級靜電放電敏感元器件的電壓≤2kV,2級靜電放電敏感器件的電壓為2~4kV,3級靜電放電敏感元器件的電壓為4~16kV。

對靜電放電敏感的元器件有微波器件(肖特基二極體,點接觸二極體和f≥1GHz的檢波二極體)、MOS場效應電晶體(MOSFET)、結型場效應電晶體(JFET)、聲表面波器件(SAW)、電荷耦合器件(CCD)、精密穩壓二極體、運算放大器(OP AMP)、集成電路(IC)、混合電路、特高速集成電路(VHSIC)、薄膜電阻器、精密電阻網絡(RZ型)、可控矽整流器、光電器件(光電二極體、光電電晶體、光電耦合器)、片狀電阻器、混合電路、壓電晶體等。

在電路設計中選擇元器件時,需要考慮元器件的抗靜電能力,特別是接口器件。如果選擇不到更高抗靜電能力的元器件時,需要對抗靜電能力差的元器件採取保護措施。

(2)印製板(多層板)應裝在靠近接插件、鑰匙鎖的部位;模擬接地面、數字接地面、功率接地面、繼電器接地面、低電平電路接地面等接地面要多點相連;與後背板相連的插座同樣要用多排插針接地;內部電路(包括地)同樣應離開接插件金屬殼體6~8mm以上。

(3)對干擾源、高頻電路和靜電敏感電路,應實現局部屏蔽或單板整體屏蔽,或者採用護溝和隔離區的設計方法。

(4)試驗證明,由靜電放電引起的干擾脈衝是一個按指數規律衰減的受調製的正弦波,含有豐富的高頻分量,因此,應對電源進線和信號進線用濾波器濾波,在電源和地之間用高頻電容器去耦;電源輸入端可用LC網絡濾波;對射頻組件的向外引線應用穿心電容器濾波或採用帶濾波器的接插件進行濾波。

(5)在器件的電源、地腳附近添加不同頻率的濾波電容(不同容值的電容組合使用)。集成電路的電源和地之間應添加去耦電容,去耦電容要並接在同一晶片的電源端和接地端,並且緊靠被保護的晶片安裝。對於電源和地有多個引腳的大規模集成電路,可設置多個去耦電容。對於動態RAM器件,去耦電容的容量應較大。

對於大規模集成電路,尤其是專用CPU, EEPROM, Flash Memory, EPLD, FPGA等類型晶片,每個去耦電容應並接一個充放電電容。對於小規模集成電路,每10片也要加接一個充放電電容。該電容以10pF的鉭電容或聚碳酸醋電容為宜。

(6)時鐘線和敏感信號線(復位線、無線接收信號)一定要採用電源、地層平面進行屏蔽處理。

(7)PCB上所有的迴路面積都應儘可能小,因為它們對瞬態靜電電流產生的磁場非常敏感。迴路不僅包括電源與地之間的迴路,也包括信號與地之間的迴路。

(8)在信號線上可以有選擇地添加一些容值合適的電容,或者串聯阻值合適的電阻,這可以提高信號線對抗靜電放電的能力。但要注意,在信號線上添加電容或其他保護器件時,需要慎重,特別是在速率很高的信號傳輸情況下,阻容器件會引起信號失真,並且影響到信號線的傳輸質量和特性阻抗,影響信號的傳輸質量,因此要小心使用阻容器件。

(9)PCB上有很多接口電路,如電源(一次和二次)接口、信號接口、射頻接口等,可以根據設計要求採用光耦合器、隔離變壓器、光纖、無線和紅外線等隔離方式。

如圖15-25所示,可以在PCB上的I/O口連接ESD保護電路。但外加器件仍會增加電路板面積,防護器件的電容效應會增加信號線的等效電容。

圖15-25 一般I/O口的ESD保護電路

設計時可以採用一些專業廠商生產的多路信號接口的保護器件,完成多種信號接口的靜電保護。

當數字電路時鐘前沿時間小於3ns時,要在I/O連接器埠對地間設計火花放電間隙防護電路。