南通中鐳光電申請光電子器件響應頻率測試專利,有助於提高測試的效率

2024-11-02     金融界

金融界2024年11月2日消息,國家知識產權局信息顯示,南通中鐳光電有限公司申請一項名為「一種光電子器件響應頻率測試裝置以及測試方法」的專利,公開號 CN 118882820 A,申請日期為2024年9月。

專利摘要顯示,本發明公開了一種光電子器件響應頻率測試裝置以及測試方法,屬於檢測設備技術領域;包括底座、載物台、動態測試機構和靜態測試機構;所述的動態測試機構安裝在底座上,所述的動態測試機構包括攝像頭一,所述的攝像頭一用於採集對光電子器件通電時,動態下的光電子器件所發出的光的頻率;所述的靜態測試機構包括多個攝像頭二和多個按壓頭,所述的按壓頭用於按壓光電子器件,所述的攝像頭二用於採集對光電子器件通電時,靜止狀態下的光電子器件所發出光的頻率。本發明通過動態測試機構和靜態測試機構自動完成對光電子器件的響應頻率測試,結構簡單,操作方便,並且能夠連續完成兩種情景下的測試,有助於提高測試的效率。

來源:金融界

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