英偉達CEO：Blackwell晶片設計缺陷已修復，預計將在Q4發貨

鈦媒體App 10月24日消息，英偉達CEO黃仁勛稱，在台積電的幫助下，英偉達最新款Blackwell AI晶片的設計缺陷已得到修復，該缺陷此前曾影響生產。這位CEO表示，「我們在Blackwell有一個設計缺陷，它是功能性的，但設計缺陷導致良品率很低。這100%是英偉達的錯。」在最近的高盛會議上，這位執行長說，這些晶片將在第四季度發貨。