无锡国芯微申请 MEMS 传感器自校准系统和自校准方法专利,实现传感器工作中自动校准

2024-11-05   金融界

金融界 2024 年 11 月 5 日消息,国家知识产权局信息显示,无锡国芯微高新技术有限公司申请一项名为“MEMS 传感器自校准系统和自校准方法”的专利,公开号 CN 118894489 A,申请日期为 2024 年 9 月。

专利摘要显示,本申请公开 MEMS 传感器自校准系统和自校准方法,涉及传感器检测领域,系统的激励信号模块连接 MCU,根据控制信号输出激励信号并送入至传感器内部,改变传感器内部梳齿电容的电容值;MCU 采集传感器的信号值并进行信号矫正输出;MCU 获取各激励信号在对应梳齿电容值下输出的校准数据,并与激励信号作用下的实际信号值进行线性度比较,计算并更新传感器的自检增益;在正常工作模式下,MCU 获取传感器的实测信号值,基于更新后自检增益计算输出校准信号值。该系统可以实现传感器工作过程中自动进行性能评估与校准,无需外部设备或人工干预,即可确保传感器输出数据的准确性和稳定性。

来源:金融界